天瑞仪器 EDX3000PLUS X荧光贵金属检测仪

天瑞仪器 EDX3000PLUS X荧光贵金属检测仪

性能优势

高分辨率：
采用SDD硅漂移探测器 ，分辨率为139±5ev ，而常规的Si-PIN探测器，分辨率为160±5eV， 能更好的检测铂金中铱和金的含量。

高准确度，性能优：
使用25mm2大面积铍窗探测器，大大提高样品特征X荧光的接收能力。配合数字多道分析器技术，提高分析速度，总体提高系统处理能力，计数率大可达8万，比Si-PIN 6mm2探头提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。

清晰摄像头，准确定位：
采用新型工业级相机，样品图像更加清晰，轻松实现精准定位。

小准直器，轻松实现精小部位测试：
提供多种准直器，直径小达0.2mm，可轻松实现精小部位的准确测试，同时可根据测试需求电动切换准直器，使测量更加轻松更加准确。

一键式智能式操作，省去选曲线烦恼：
FP法的完整使用，只需一键操作即可智能化自动匹配曲线，操作一步到位。

技术参数

元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达ppm级
分析含量一般为ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：139±5eV

仪器配置

移动样品平台
SDD探测器
数字多道分析系统
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
质量：45Kg

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测

天瑞仪器 EDX3000PLUS X荧光贵金属检测仪